SARK-100 의 측정 정밀도 향상





SARK 100 의 오실레이터 부


빨간 화살표 부분의 50 옴 저항에 주목






첫번째 회로에서 50옴 저항을 통과한 출력이 위 빨간 화살표로 들어감.


여기서 문제는, 측정 브릿지의 저항이 안테나의 임피던스에 따라 100~33.3 ohm 까지 변화 하는데

DDS 출력이 50 옴을 거쳐서 나오므로, 브릿지 저항변화에 의해 VF 값이 춤을 추게 된다는 것임

-> 이것은 곧 측정 정밀도의 하락으로 이어진다.


물론 VF 가 ADC 의 최대 입력인 4096 을 벗어나지 않는다면 큰 문제가 되지 않으나 

VF (즉 DDS 출력 전압)가 모자라서 그 이하가 될 경우, 문제가 된다.





브릿지에서의 출력 값, 맨 첫 컬럼이 VF ADC 값.


위 그림은 실제 브릿지 측정 데이터 이다, 왼쪽은 회로 수정 후, 오른쪽은 회로 수정 전 이다. 

수정 후에는 4000 정도로 안정적인 VF 값이나(이게 정상임), 원래의 회로에서는 2800~3900 까지 지저분하게 춤추고 있는 것이 보인다. 


이 원인 제공은 SARK-100 의 베이스 모델이 되었던 AA-908 에 사용된 9851 DDS 도터카드 가 범용으로 만들어져 있어서, 

출력단의 보호를 위해 출력에 50옴 저항을 직렬로 연결한 것이 시작이다. 


AA-908 을 베이스로 다시 만든 SARK-100 역시, 그 회로를 검토 없이 그대로 적용한 것이고,

이 "춤추는 VF" 를 잡기 펌웨어의 칼리브레이션 구현 및 저장 데이터가 매우 복잡하게 만들어지는 계기가 됐다.


어쨌거나, 저 50옴 저항을 제거하고 직결하면 되며, 브릿지의 특성상 0 옴으로 떨어지는(쇼트) 일은 없으므로 

DDS 출력단의 소손은 걱정하지 않아도 된다.


부수적인 효과로는 측정에 사용되는 출력이 증가하므로 안테나로부터 수신되는 외부 신호(때로는 엄청 강함)의 

교란에 다소 강해 진다. 


단점으로는, 2차, 3차 고조파의 상승이 조금 발생하나(수dB) 출력 자체가 높아졌으므로 무시해도 좋은 수준이다. 

여전히 2차 고조파는 출력주파수보다 30dB(1/1000) 아래에 있으므로 측정 정밀도에 큰 문제가 되지 않는다.


단, 회로를 변경할 경우, 기준값이 변동되므로 칼리브레이션 초기 데이터 테이블 역시 변경되어야 하며 

칼리브레이션 절차 역시 새로 진행해야 한다.


펌업에 실패할 경우 벽돌이 되며, 중국복제품의 경우 SMD type 의 CPU 를 들어내야 하는 대형사고가 

발생하므로 사전에 충분히 주의.


들어낸다 하여도, SOP28 변환소켓과 Cypress CY8C 계열 프로그래머(Writer)가 있어야 하므로 

MCU 에 대한 지식이 없으면 수리 불가능하다.


나의 경우 부트로더 이상으로 작동불능에 빠져, 이미 한번 들어내서 재 프로그래밍 하고 다시 납땜함.

여러번 하게 되면 PCB 자체를 못쓰게 된다


아래 변경 펌웨어를 올린다.


P.S  해당 펌웨어는 137KHz, 473KHz 측정이 추가 되어 있다.


SARK100_SwrAnalyzer_BL.hex